X熒光光譜儀產(chǎn)品及廠家
奧林巴斯美國(guó)公司是全球家通過(guò)iso9001質(zhì)量體系認(rèn)證的微型x熒光光譜技術(shù)分析儀器的生產(chǎn)廠商，同時(shí)通過(guò)了nato aqapi標(biāo)準(zhǔn)。(該標(biāo)準(zhǔn)為北大西洋公約組織對(duì)精密武器及其零件供應(yīng)商的高品質(zhì)要求)。
更新時(shí)間:2025-07-12
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xd-1000是一款用于檢測(cè)各種異形件，特別是五金類模具、鋁鈍化膜厚、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
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xd-1000 是一款用于檢測(cè)各種異形件，特別是五金類模具、鋁鈍化膜厚、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用，尤其是特斯拉鋁鈍化膜測(cè)厚？扇詣(dòng)多點(diǎn)、多樣測(cè)試鍍層膜厚。
更新時(shí)間:2025-07-12
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公司擁有業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，開創(chuàng)了全新一代 efp 核心算法，開發(fā)了高集成的四焦技術(shù)、閉環(huán)移動(dòng)控制及 ai 影像識(shí)別。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測(cè)提供穩(wěn)定高效的無(wú)損自動(dòng)檢測(cè)解決方案。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、led 和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。
更新時(shí)間:2025-07-12
公司擁有業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，開創(chuàng)了全新一代 efp 核心算法，開發(fā)了高集成的四焦技術(shù)、閉環(huán)移動(dòng)控制及 ai 影像識(shí)別。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測(cè)提供穩(wěn)定高效的無(wú)損自動(dòng)檢測(cè)解決方案。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、led 和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。
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公司擁有業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，開創(chuàng)了全新一代 efp 核心算法，開發(fā)了高集成的四焦技術(shù)、閉環(huán)移動(dòng)控制及 ai 影像識(shí)別。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測(cè)提供穩(wěn)定高效的無(wú)損自動(dòng)檢測(cè)解決方案。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、led 和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。
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公司擁有業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，開創(chuàng)了全新一代 efp 核心算法，開發(fā)了高集成的四焦技術(shù)、閉環(huán)移動(dòng)控制及 ai 影像識(shí)別。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測(cè)提供穩(wěn)定高效的無(wú)損自動(dòng)檢測(cè)解決方案。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、led 和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。
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公司擁有業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，開創(chuàng)了全新一代 efp 核心算法，開發(fā)了高集成的四焦技術(shù)、閉環(huán)移動(dòng)控制及 ai 影像識(shí)別。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測(cè)提供穩(wěn)定高效的無(wú)損自動(dòng)檢測(cè)解決方案。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、led 和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造域。
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xtu-50a電鍍膜厚測(cè)試儀結(jié)構(gòu)緊湊，有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測(cè)量面積0.002mm2最深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（x-y）/圈，再小再多的樣品測(cè)試都能輕松應(yīng)對(duì)
更新時(shí)間:2025-07-12
xtu-50a電鍍膜厚儀結(jié)構(gòu)緊湊，有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測(cè)量面積0.002mm2最深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（x-y）/圈，再小再多的樣品測(cè)試都能輕松應(yīng)對(duì)
更新時(shí)間:2025-07-12
xtu-50a鍍層膜厚儀結(jié)構(gòu)緊湊，有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測(cè)量面積0.002mm2最深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（x-y）/圈，再小再多的樣品測(cè)試都能輕松應(yīng)對(duì)
更新時(shí)間:2025-07-12
xtu-50ax熒光鍍層膜厚儀結(jié)構(gòu)緊湊，有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測(cè)量面積0.002mm2最深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（x-y）/圈，再小的樣品測(cè)試都能輕松應(yīng)對(duì)。
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xtu-50ax熒光鍍層測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)緊湊，有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測(cè)量面積0.002mm2最深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（x-y）/圈，再小的樣品測(cè)試都能輕松應(yīng)對(duì)。
更新時(shí)間:2025-07-12
xtu-50ax射線鍍層測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)緊湊，有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測(cè)量面積0.002mm2最深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（x-y）/圈，再小的樣品測(cè)試都能輕松應(yīng)對(duì)。
更新時(shí)間:2025-07-12
xtu-50ax射線電鍍測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)緊湊，有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測(cè)量面積0.002mm2最深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（x-y）/圈，再小的樣品測(cè)試都能輕松應(yīng)對(duì)。
更新時(shí)間:2025-07-12
xtu-50a電鍍測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)緊湊，有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和先進(jìn)的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·最小測(cè)量面積0.002mm2最深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（x-y）/圈，再小的樣品測(cè)試都能輕松應(yīng)對(duì)。
更新時(shí)間:2025-07-12
公司最新一代p-8000手持光譜儀，不僅在硬件上實(shí)現(xiàn)超高速數(shù)字多道技術(shù)，同時(shí)在軟件核心算法上使用自行開發(fā)的fp法，性能達(dá)到世界領(lǐng)先水平，同時(shí)p-8000手持光譜儀的技術(shù)及光路設(shè)計(jì)技術(shù)，開創(chuàng)性的將分析技術(shù)及大膽的創(chuàng)新結(jié)合在一起，再一次重新定義了現(xiàn)場(chǎng)分析新方案。
更新時(shí)間:2025-07-12
公司最新一代p-8000進(jìn)口合金分析儀，不僅在硬件上實(shí)現(xiàn)超高速數(shù)字多道技術(shù)，同時(shí)在軟件核心算法上使用自行開發(fā)的fp法，性能達(dá)到世界領(lǐng)先水平，同時(shí)p-8000進(jìn)口合金分析儀的技術(shù)及光路設(shè)計(jì)技術(shù)，開創(chuàng)性的將分析技術(shù)及大膽的創(chuàng)新結(jié)合在一起，再一次重新定義了現(xiàn)場(chǎng)分析新方案。
更新時(shí)間:2025-07-12
公司最新一代p-8000進(jìn)口礦石分析儀，不僅在硬件上實(shí)現(xiàn)超高速數(shù)字多道技術(shù)，同時(shí)在軟件核心算法上使用自行開發(fā)的fp法，性能達(dá)到世界領(lǐng)先水平，同時(shí)p-8000進(jìn)口礦石分析儀的技術(shù)及光路設(shè)計(jì)技術(shù)，開創(chuàng)性的將分析技術(shù)及大膽的創(chuàng)新結(jié)合在一起，再一次重新定義了現(xiàn)場(chǎng)分析新方案。
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