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      光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家

      激光鐵路隧道限界測(cè)量?jī)x,隧道斷面及設(shè)備限界測(cè)量?jī)x,生成隧道輪廓圖形
      hyxj-1激光鐵路限界測(cè)量?jī)x可對(duì)隧道限界、鐵路限界(如站臺(tái)、信號(hào)機(jī)、風(fēng)雨棚等)、橋梁、跨線橋、車站附屬物限界、軌道相對(duì)隧道位置等數(shù)據(jù)進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量,也可快速的測(cè)量鐵路、地鐵、城市軌道的站臺(tái)及附屬物限界尺寸和地下曲線車站站臺(tái)邊緣至機(jī)車輪廓線間間隔及附屬物全斷面、分?jǐn)嗝、單點(diǎn)限界。測(cè)量軟件并自動(dòng)判斷是否超限,自動(dòng)生成圖形和限界報(bào)表。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      智能尖軌降低值測(cè)量?jī)x,數(shù)顯尖軌測(cè)量尺
      尖軌自身的加工誤差和尖軌磨損導(dǎo)致輪對(duì)與直尖軌和基本軌組合受力不良,直尖軌降低值不符合要求是道岔晃車的根本原因和引起晃車的重要原因。hyjg-1智能尖軌降低值測(cè)量?jī)x是用來(lái)測(cè)量尖軌相對(duì)于基本軌的降低值以及心軌相對(duì)于翼軌的降低值的用儀器。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      陶瓷插芯測(cè)孔儀,光纖陶瓷插芯測(cè)孔儀,陶瓷插芯同心度測(cè)量?jī)x
      測(cè)量陶瓷插芯的內(nèi)孔孔徑,外圓直徑,圓度,內(nèi)外圓同心度。陶瓷插芯的圓柱的直線度,平行度
      更新時(shí)間:2025-07-14
      拉絲模具檢查儀,拉絲模檢測(cè)儀,拉絲模缺陷檢查,拉絲模缺陷分析
      觀察拉絲模具定徑區(qū)和壓縮區(qū),出口區(qū)的缺陷及光潔度。本產(chǎn)品改變了傳統(tǒng)用顯微鏡觀察的方式,把要觀察的部位以影像的方式呈現(xiàn)出來(lái),解決視力疲勞問題,方便溝通和顯微鏡使用方法一樣,只是觀察方式的改變。專用模具支架,方便使用。適用于各種類型,各種孔徑的拉絲模具。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      端子檢測(cè)顯微鏡,端子測(cè)量顯微鏡,端子分析顯微鏡
      端子分析儀chd-200是針對(duì)線束行業(yè)品質(zhì)檢驗(yàn)而專門研發(fā)的一款精密檢測(cè)分析設(shè)備,整套系統(tǒng)由端子切割設(shè)備、研磨設(shè)備、腐蝕清洗、斷面圖像采集系統(tǒng)、線束端子圖片測(cè)量分析系統(tǒng)等單元組成,采用人體力學(xué)設(shè)計(jì),模塊化組合,流水線式工作流程,讓操作更方便、快捷。全套檢測(cè)系統(tǒng)可在5分鐘內(nèi)完成一個(gè)端子的處理分析,極大地提高了端子斷面品質(zhì)檢驗(yàn)的速度。簡(jiǎn)易的操作、高品質(zhì)的圖像采集系統(tǒng)、精確的測(cè)量分析為您的生產(chǎn)保駕護(hù)航
      更新時(shí)間:2025-07-14
      拉絲模具測(cè)量?jī)x
      拉絲模具測(cè)孔儀對(duì)拉絲?讖.孔型進(jìn)行測(cè)量.拉絲模具測(cè)孔儀對(duì)異型孔也可以進(jìn)行測(cè)量.拉絲模具測(cè)孔儀也可以對(duì)孔型及表面光潔度進(jìn)行觀察.拉絲模具測(cè)孔儀操作簡(jiǎn)單.易學(xué).高效.高精度
      更新時(shí)間:2025-07-14
      太陽(yáng)膜透過率測(cè)試儀
      ns11太陽(yáng)膜透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      汽車前擋玻璃透光率儀
      ns530a汽車前擋玻璃透光率儀具有的三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外,紅外,和可見光,顯示值為紅外透過率值,紫外透過率值和可見光透過率值。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      汽車太陽(yáng)膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器
      ns101汽車太陽(yáng)膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器的測(cè)試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。大多數(shù)的太陽(yáng)膜,可見光標(biāo)注透過率指標(biāo),紅外線和紫外線標(biāo)注阻隔率指標(biāo),阻隔率=100%-透過率。ns101直接測(cè)量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見光透過率,
      更新時(shí)間:2025-07-14
      汽車前檔貼膜透光率測(cè)試儀
      ns530a汽車前檔貼膜透光率測(cè)試儀具有三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外,紅外,和可見光,顯示值為紅外透過率值,紫外透過率值和可見光透過率值。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      卡式便攜式透光率儀
      ns13a卡式便攜式透光率儀,透光率測(cè)試儀,透光率檢測(cè)儀,透光率計(jì),透過率測(cè)試儀,玻璃透光率儀,鏡片透光率測(cè)試儀,眼鏡片透光率儀,透明材料透光率儀,涂料透光率儀,太陽(yáng)鏡片透光率測(cè)試儀
      更新時(shí)間:2025-07-14
      臺(tái)式光學(xué)透過率測(cè)試儀
      ns550h臺(tái)式光學(xué)透過率測(cè)試儀測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      便攜式透光率儀
      ns15a透光率儀是一款寬譜線可見光(380nm~760nm)測(cè)量?jī)x,測(cè)試原理是采用三路完全相同的可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三路光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x
      ns500中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x測(cè)試原理是利用光學(xué)反射原理,可在玻璃的單側(cè)表面測(cè)量玻璃厚度,尤其適用于通用測(cè)量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合,如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃(中空玻璃)窗厚度的測(cè)量。對(duì)于空氣夾層玻璃的測(cè)量,還可以同時(shí)獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀
      ns550a眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀的測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      多波段透過率測(cè)試儀
      ns365多波段透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示
      更新時(shí)間:2025-07-14
      中空玻璃測(cè)厚儀
      ns500中空玻璃測(cè)厚儀專用于測(cè)量單層玻璃,夾層玻璃(中空玻璃)和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合,如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測(cè)量。對(duì)于中空玻璃厚度的測(cè)量,同時(shí)測(cè)得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      臺(tái)式透光率儀
      ns550a臺(tái)式透光率儀 測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      高精度透過率測(cè)試儀
      ns12高精度透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      防爆膜測(cè)試儀
      ns10a防爆膜測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      光學(xué)透過率測(cè)量?jī)x
      ns13a光學(xué)透過率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      IR油墨透光率儀
      ns550ir油墨透光率儀的測(cè)試原理是采用紅外850nm光源,紅外940nm光源和可見550nm光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      愛色麗標(biāo)準(zhǔn)版新款印刷密度儀
      愛色麗標(biāo)準(zhǔn)版新款印刷密度儀exact將色彩測(cè)量和管理提升到一個(gè)新的水平。這是一個(gè)可擴(kuò)展的平臺(tái),可根據(jù)需要升級(jí)版本,在現(xiàn)場(chǎng)將簡(jiǎn)單的密度儀升級(jí)到先進(jìn)的光譜測(cè)量?jī)x器。愛色麗標(biāo)準(zhǔn)版新款印刷密度儀,印刷商和包裝轉(zhuǎn)印商能夠真正理解、控制、管理和交流色彩,避免重印和返工。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      不分光紅外CO分析儀
      不分光紅外co分析儀是我公司針對(duì)公共場(chǎng)所、工作場(chǎng)所的空氣中的有毒有害物質(zhì)進(jìn)行檢查的高精度儀器,儀器采用不分光紅外分析法/非分散紅外法(ndir)測(cè)量空氣中的壹氧化碳、二氧化碳濃等的濃度,具有測(cè)量精度高,使用壽命長(zhǎng),交叉干擾小等優(yōu)點(diǎn),是環(huán)境監(jiān)測(cè)域,職業(yè)衛(wèi)生監(jiān)測(cè)域的必備儀器
      更新時(shí)間:2025-07-14
      紫外差分煙氣分析儀
      gr-3028型紫外煙氣綜合分析儀(以下簡(jiǎn)稱分析儀)以紫外差分吸收光譜技術(shù)為核心的新型產(chǎn)品,主要用于排氣管道中有害氣體成分的測(cè)量,廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)以及熱工參數(shù)測(cè)量等部門。該分析儀性能指標(biāo)均符合國(guó)家環(huán)保局頒布的煙氣測(cè)試儀的有關(guān)規(guī)定。采用紫外差分吸收光譜技術(shù)和化學(xué)計(jì)量學(xué)算法測(cè)量so2/no/no2/o2/co/co2等氣體的濃度,不受煙氣中水蒸氣影響,具有較高
      更新時(shí)間:2025-07-14
      德國(guó)NETZSCH差示掃描量熱儀
      差示掃描量熱儀dsc 300 ,是全面、可靠的dsc儀器系列,表征材料熱性能游刃有余。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      德國(guó)NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
      lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀,自由選擇測(cè)試氣氛,優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源,16位自動(dòng)進(jìn)樣器,高的測(cè)量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統(tǒng),設(shè)計(jì)獨(dú)特,性能優(yōu)異,配備氙燈光源的,高溫測(cè)試系統(tǒng),寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內(nèi)置微型管式爐,更高的測(cè)量效率,高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
      更新時(shí)間:2025-07-14
      OAI UV METER
      oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
      更新時(shí)間:2025-07-14
      日本理學(xué)X射線衍射儀
      日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無(wú)損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
      更新時(shí)間:2025-07-14
      日本理學(xué)X射線衍射儀
      日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無(wú)損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
      更新時(shí)間:2025-07-14
      德國(guó)Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
      德國(guó)optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀,用于測(cè)量管狀或平面太陽(yáng)能吸收涂層的定向熱發(fā)射度,其基礎(chǔ)是測(cè)量來(lái)自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
      更新時(shí)間:2025-07-14
      德Optosol太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
      德optosol-k3 太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀,k3型發(fā)射率檢測(cè)儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體(作為熱輻射源)和三個(gè)對(duì)波長(zhǎng)在8-14μm范圍的光線敏感的探測(cè)器組成。 來(lái)自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測(cè)器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測(cè)量的是由樣品反射回來(lái)的輻射。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      德國(guó)Optosol 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x
      optosol absorber control k1 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x,
      更新時(shí)間:2025-07-14
      美國(guó)OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器
      trisol aaa美國(guó)oai標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器,低成本,標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器提供高度準(zhǔn)直,均勻的光,幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽(yáng)光下長(zhǎng)時(shí)間或短時(shí)間的基本測(cè)試。根據(jù)配置,這些太陽(yáng)能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      美國(guó)OAI太陽(yáng)能模擬器
      tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國(guó)oai太陽(yáng)能模擬器,這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽(yáng)模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽(yáng)能模擬太陽(yáng)的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      美國(guó) D&S 發(fā)射率測(cè)量?jī)x
      美國(guó) d&s 發(fā)射率測(cè)量?jī)x ae1/rd1,是專門針對(duì)測(cè)量物體的輻射率設(shè)計(jì)的,ae1測(cè)量樣品最小直徑為2.25英寸(5.7cm)。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測(cè)頭能使測(cè)量樣品最小直徑為1.0英(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對(duì)小直徑圓柱形面樣品測(cè)量,可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      美國(guó)SONIX 晶圓檢測(cè)設(shè)備
      美國(guó)sonix 晶圓檢測(cè)設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型,主要應(yīng)用在bond wafer,mems 內(nèi)部空洞、離層檢測(cè),tsv量測(cè)方面。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      美國(guó)泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
      美國(guó)泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ,加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測(cè)量。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
      瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ,非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來(lái)實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
      更新時(shí)間:2025-07-14
      韓國(guó)Ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
      韓國(guó)ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)hms3000,hms5000,用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性,可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      美國(guó) MMR 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
      美國(guó) mmr 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) h5000,用于研究光電材料的電學(xué)特性,利用范德堡測(cè)量技術(shù)測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場(chǎng)三部分。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)
      半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007,emp100c,emp100b,emp50s
      更新時(shí)間:2025-07-14
      德國(guó)Mecwins 掃描式激光分析儀
      德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      美國(guó)NANOVEA三維表面形貌儀
      美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試,具有測(cè)量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      德國(guó)YXLON 高分辨率X射線檢測(cè)設(shè)備
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      更新時(shí)間:2025-07-14
      美國(guó)Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
      美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
      更新時(shí)間:2025-07-14
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      美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
      更新時(shí)間:2025-07-14
      美國(guó)RTI自動(dòng)特性圖示儀
      美國(guó)rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel,提供4種型號(hào)可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣,mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專用夾具連接的接口。
      更新時(shí)間:2025-07-14
      德國(guó)Klocke Nanotech  3D納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x
      德國(guó)klocke nanotech納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x3d nanofinger,是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測(cè)量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測(cè)量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進(jìn)行在線檢測(cè)、質(zhì)量控制等。
      更新時(shí)間:2025-07-14
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      日本a&d粒子計(jì)數(shù)器(粒度計(jì))sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測(cè)的低成本替代設(shè)備,計(jì)數(shù)值高達(dá)2,000,000個(gè)粒子/ft.
      更新時(shí)間:2025-07-14

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