其他產品及廠家
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-07-16
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-07-16
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-07-16
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗
更新時間:2025-07-16
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-07-16
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-07-16
lim 系列爐溫測試儀一款革命性的測試儀器，F在軟件更新為profiling software。同時在原有基礎上增加更多的工藝曲線應用項目，給予使用者帶來更為輕松的工作需求。
更新時間:2025-07-16
bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無線實時傳輸數據的場景，屬于bathrive? 品牌第6代產品，在滿足低功耗的情況下實現數據的實時無線傳輸，讓實時獲得溫度數據成為現實，無線數據傳輸距離超過2km(無障礙)
更新時間:2025-07-16
布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無線實時傳輸數據的場景，屬于bathrive? 品牌第6代產品，在滿足低功耗的情況下實現數據的實時無線傳輸，讓實時獲得溫度數據成為現實，無線數據傳輸距離超過2km(無障礙)
更新時間:2025-07-16
kic2000爐溫測試儀產品介紹加工定制：是品牌：美國kic型號：kic2000測量范圍：-50-1050（℃）測溫分辨率：0.1℃外形尺寸：320*86*26（mm）裝箱數：1
更新時間:2025-07-16
產品用途：用來對各種加熱或制冷設備進行溫度測量.長時間溫度監(jiān)控.溫度曲線測繪及溫度數據分析等適用范圍：smt電子生產制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進行溫度監(jiān)控或測量的行業(yè)
更新時間:2025-07-16
kic explorer爐溫測試儀產品介紹加工定制：是品牌：kic型號：explorer 7ch測量范圍：內部操作溫度0-85（℃）測溫分辨率：0.1℃測溫精度：+/-1.2℃外形尺寸：200.0×60.0×17.0（mm）裝箱數：1
更新時間:2025-07-16
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-07-16
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-07-16
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-07-16
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
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cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發(fā)送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-07-16
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-07-16
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統提交喚醒請求，使處理器系統重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-07-16
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-07-16
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-07-16
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-07-16
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-07-16
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-07-16
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發(fā)展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-07-16
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發(fā)現 ddr3 的信號出現非單調性。
更新時間:2025-07-16
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-07-16
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發(fā)現問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-07-16
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-07-16
emmc 時鐘測試 數據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-07-16
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-07-16
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數及帶寬不好控制。
更新時間:2025-07-16
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數據信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-07-16
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數據存取等功能。
更新時間:2025-07-16
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-07-16
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現卡的初始化和數據訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-07-16
紫外線能激發(fā)某些物質發(fā)生熒光和具有殺菌能力，因此紫外線分析在科學研究、醫(yī)藥衛(wèi)生、石油化工、染料、涂料、橡膠、紡織、造紙、食品、地質勘探、考古、公安等具有廣泛的用途。
更新時間:2025-07-16
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀，主機體積只有150mm×70mm×116mm大小，重約870克，攜帶操作極為輕巧簡便，整體設計采用全金屬外殼，堅固耐用
更新時間:2025-07-16
本儀器由半導體激光管、微型穩(wěn)壓電源、光學系統、調焦系統、隔爆結構和調節(jié)裝置組合而成，為體式激光指向產品。本儀器集中我公司原有激光產品的許多優(yōu)點，造型新穎，調節(jié)靈活，安裝快捷、方便、安全性能高，使用壽命長。發(fā)光器采用進口晶體管，可隨意調焦，可更換激光管及穩(wěn)定電源。本儀器在-20℃~40℃環(huán)境中及在海拔5000米以上高原環(huán)境中都可正常使用。
更新時間:2025-07-16
類型：便攜式 測量范圍：0-20ppm 測量對象：cl2 測量精度：0.1 電壓：dc3.6v鋰電；1200mah（v） 分辨率：0.3 尺寸：110mm×60mm×40mm（mm） 重量：≤0.2g（kg） 電源：dc3.6v鋰電；1200mah
更新時間:2025-07-16
in8雙環(huán)入滲儀是用來測量水滲入土壤的滲透速度。in8有個6英寸的內環(huán)、12英寸的外環(huán)，環(huán)高7英寸。在雙環(huán)的中心有根焊接鋼棒來穩(wěn)固外環(huán)和內環(huán)，使兩個環(huán)處于同心。鋼棒兩端有橡膠手柄，使內外環(huán)插入土壤變得很簡單。此種環(huán)適用于土壤堅硬的地區(qū)。15分鐘內測定滲透速率。
更新時間:2025-07-16
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