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      其他產(chǎn)品及廠家

      MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
      mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
      更新時(shí)間:2025-07-16
      MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
      mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
      更新時(shí)間:2025-07-16
      MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題
      mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
      更新時(shí)間:2025-07-16
      MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
      mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
      更新時(shí)間:2025-07-16
      24通道無(wú)線溫度驗(yàn)證儀,爐溫測(cè)試儀供應(yīng)
      超小體積,內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
      更新時(shí)間:2025-07-16
      超小體積,內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
      更新時(shí)間:2025-07-16
      爐溫測(cè)試儀回流焊波峰焊爐溫溫度記錄儀GX62
      超小體積,內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測(cè)量得心應(yīng)手,設(shè)計(jì)使用壽命超過(guò)10年
      更新時(shí)間:2025-07-16
      爐溫追蹤儀爐溫測(cè)試儀Bathrive_GX12
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      更新時(shí)間:2025-07-16
      SMT布瑞得爐溫曲線測(cè)試儀GX16
      smt布瑞得爐溫曲線測(cè)試儀gx16
      更新時(shí)間:2025-07-16
      布瑞得無(wú)線爐溫測(cè)試儀記錄儀GX20
      布瑞得無(wú)線爐溫測(cè)試儀記錄儀gx20
      更新時(shí)間:2025-07-16
      6通道/9通道/12通道 溫度驗(yàn)證儀,爐溫測(cè)試儀供應(yīng)
      lim 系列爐溫測(cè)試儀一款革命性的測(cè)試儀器。現(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時(shí)在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線應(yīng)用項(xiàng)目,給予使用者帶來(lái)更為輕松的工作需求。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      布瑞得Bathrive GX10B隧道爐爐溫測(cè)試儀
      bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無(wú)線實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場(chǎng)景,屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品,在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無(wú)線傳輸,讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí),無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸距離超過(guò)2km(無(wú)障礙)
      更新時(shí)間:2025-07-16
      布瑞得Bathrive GX10無(wú)線爐溫測(cè)試儀爐溫監(jiān)控儀
      布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無(wú)線實(shí)時(shí)傳輸數(shù)據(jù)的場(chǎng)景,屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品,在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)無(wú)線傳輸,讓實(shí)時(shí)獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí),無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸距離超過(guò)2km(無(wú)障礙)
      更新時(shí)間:2025-07-16
      KIC 爐溫測(cè)試儀
      kic2000爐溫測(cè)試儀產(chǎn)品介紹加工定制:是品牌:美國(guó)kic型號(hào):kic2000測(cè)量范圍:-50-1050(℃)測(cè)溫分辨率:0.1℃外形尺寸:320*86*26(mm)裝箱數(shù):1
      更新時(shí)間:2025-07-16
      SMT爐溫測(cè)試儀,美國(guó)布瑞得進(jìn)口爐溫測(cè)試儀
      產(chǎn)品用途:用來(lái)對(duì)各種加熱或制冷設(shè)備進(jìn)行溫度測(cè)量.長(zhǎng)時(shí)間溫度監(jiān)控.溫度曲線測(cè)繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍:smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進(jìn)行溫度監(jiān)控或測(cè)量的行業(yè)
      更新時(shí)間:2025-07-16
      kic爐溫測(cè)試儀報(bào)價(jià),SMT爐溫測(cè)試儀,爐溫測(cè)試儀供應(yīng)商,7通道爐溫測(cè)試儀
      kic explorer爐溫測(cè)試儀產(chǎn)品介紹加工定制:是品牌:kic型號(hào):explorer 7ch測(cè)量范圍:內(nèi)部操作溫度0-85(℃)測(cè)溫分辨率:0.1℃測(cè)溫精度:+/-1.2℃外形尺寸:200.0×60.0×17.0(mm)裝箱數(shù):1
      更新時(shí)間:2025-07-16
      ETS-LINDGREN近場(chǎng)探頭,硬件測(cè)試,開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
      misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭 儀器資訊
      更新時(shí)間:2025-07-16
      Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測(cè)試,開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
      misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
      更新時(shí)間:2025-07-16
      梅特勒電極(有問(wèn)題,產(chǎn)品上留有碎渣)
      梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問(wèn)題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
      更新時(shí)間:2025-07-16
      PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測(cè)試解決方案
      遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫(xiě)正常,memory mapping空間讀寫(xiě)異常
      更新時(shí)間:2025-07-16
      PCIE2.0 3.0 物理層一致性測(cè)試
      cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備,這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測(cè)試
      pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類(lèi)似之處,但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過(guò)該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測(cè)試
      pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時(shí),pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號(hào)質(zhì)量一致性測(cè)試
      pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見(jiàn)pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題- serdes電源問(wèn)題- 時(shí)鐘問(wèn)題
      更新時(shí)間:2025-07-16
      pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
      pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類(lèi)歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動(dòng)了人類(lèi)的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來(lái),集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來(lái)說(shuō)遇到的挑戰(zhàn)和問(wèn)題也就越來(lái)越嚴(yán)峻。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
      pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào),其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路,另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      Pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
      pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來(lái)信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號(hào)幅度越來(lái)越低,對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來(lái)越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來(lái)越來(lái)越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
      更新時(shí)間:2025-07-16
      Pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
      pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類(lèi)配置請(qǐng)求,個(gè)是type00h配置請(qǐng)求,另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      Pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
      pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代,工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車(chē),每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      Pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
      pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí),工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過(guò)程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      Pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
      pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      Pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
      pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試獲得的信號(hào)波形沒(méi)有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測(cè)試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測(cè)試才能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      EMMC 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
      emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí),焊盤(pán)部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      EMMC 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
      emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚(yú)夾地線,而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上,整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      EMMC 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
      emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
      更新時(shí)間:2025-07-16
      EMMC 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
      emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
      emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開(kāi),屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上,中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本,低衰減比,缺點(diǎn)是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
      相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō),emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
      emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫(xiě)均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
      emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試
      emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過(guò)發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問(wèn)。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      三用紫外線分析儀 紫外線分析儀 紙層分析熒光斑點(diǎn)檢測(cè)儀出租
      紫外線能激發(fā)某些物質(zhì)發(fā)生熒光和具有殺菌能力,因此紫外線分析在科學(xué)研究、醫(yī)藥衛(wèi)生、石油化工、染料、涂料、橡膠、紡織、造紙、食品、地質(zhì)勘探、考古、公安等具有廣泛的用途。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      地下漏水檢測(cè)儀 袖珍便攜式漏水檢測(cè)儀 管道漏水檢測(cè)儀出租
      jt-2000型漏水檢測(cè)儀為袖珍便攜式漏水檢測(cè)儀,主機(jī)體積只有150mm×70mm×116mm大小,重約870克,攜帶操作極為輕巧簡(jiǎn)便,整體設(shè)計(jì)采用全金屬外殼,堅(jiān)固耐用
      更新時(shí)間:2025-07-16
      激光水準(zhǔn)儀 隔爆型激光水準(zhǔn)儀 激光指向儀 水準(zhǔn)器出租
      本儀器由半導(dǎo)體激光管、微型穩(wěn)壓電源、光學(xué)系統(tǒng)、調(diào)焦系統(tǒng)、隔爆結(jié)構(gòu)和調(diào)節(jié)裝置組合而成,為體式激光指向產(chǎn)品。本儀器集中我公司原有激光產(chǎn)品的許多優(yōu)點(diǎn),造型新穎,調(diào)節(jié)靈活,安裝快捷、方便、安全性能高,使用壽命長(zhǎng)。發(fā)光器采用進(jìn)口晶體管,可隨意調(diào)焦,可更換激光管及穩(wěn)定電源。本儀器在-20℃~40℃環(huán)境中及在海拔5000米以上高原環(huán)境中都可正常使用。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      便攜式可燃?xì)怏w測(cè)爆儀 可燃?xì)怏w測(cè)爆儀器 可燃?xì)怏w檢測(cè)儀出租
      類(lèi)型:便攜式 測(cè)量范圍:0-20ppm 測(cè)量對(duì)象:cl2 測(cè)量精度:0.1 電壓:dc3.6v鋰電;1200mah(v) 分辨率:0.3 尺寸:110mm×60mm×40mm(mm) 重量:≤0.2g(kg) 電源:dc3.6v鋰電;1200mah
      更新時(shí)間:2025-07-16
      雙環(huán)入滲儀 土壤水滲透速度測(cè)量?jī)x 滲透速率測(cè)試儀出租
      in8雙環(huán)入滲儀是用來(lái)測(cè)量水滲入土壤的滲透速度。in8有個(gè)6英寸的內(nèi)環(huán)、12英寸的外環(huán),環(huán)高7英寸。在雙環(huán)的中心有根焊接鋼棒來(lái)穩(wěn)固外環(huán)和內(nèi)環(huán),使兩個(gè)環(huán)處于同心。鋼棒兩端有橡膠手柄,使內(nèi)外環(huán)插入土壤變得很簡(jiǎn)單。此種環(huán)適用于土壤堅(jiān)硬的地區(qū)。15分鐘內(nèi)測(cè)定滲透速率。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      蠕動(dòng)泵頭 高精度蠕動(dòng)泵頭 蠕動(dòng)泵泵頭出租
      泵頭殼體材料—pps聚苯硫醚,在蠕動(dòng)泵正常工作時(shí),液體只接觸軟管,由于長(zhǎng)期摩擦 或輸送腐蝕性液體,軟管會(huì)逐漸老化,甚至破裂。旦腐蝕性液體滲漏,首先會(huì)接觸泵 頭,如果泵頭的材料不耐腐蝕,必然導(dǎo)致其酥裂;這將給生產(chǎn)、試驗(yàn)或教學(xué)帶來(lái)不必要的損失。而pps-聚苯硫醚材料的泵頭不存在以上問(wèn)題。聚苯硫醚泵頭精度高,耐高溫, 抗腐蝕,尤其在抗有機(jī)溶劑等強(qiáng)化學(xué)腐蝕方面表現(xiàn)優(yōu)異,它拓寬了蠕動(dòng)泵的使用范圍, 使其在更多的領(lǐng)域發(fā)揮作用。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      前照燈檢測(cè)儀 機(jī)動(dòng)車(chē)前照燈發(fā)光強(qiáng)度分析儀 手動(dòng)車(chē)燈調(diào)試儀出租
      dg-1型車(chē)燈調(diào)試儀是采用光電原理,經(jīng)精密加工的特殊光學(xué)鏡頭而設(shè)計(jì)制造。本產(chǎn)品適用于各種汽車(chē)檢測(cè)中心、制造廠、維修廠及車(chē)隊(duì),可對(duì)各種機(jī)動(dòng)車(chē)輛前照燈的發(fā)光強(qiáng)度及偏斜度進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量校正,是種理想的無(wú)源調(diào)試儀,具有指示精確、直觀、性能穩(wěn)定、隨意移動(dòng)等特點(diǎn)。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      阻擺式料位計(jì) UL型阻移式料位計(jì) 塊狀物料分析儀出租
      ul型阻移式物位計(jì),對(duì)開(kāi)口料倉(cāng)與密閉料倉(cāng)中的粉狀、顆粒狀、塊狀物料進(jìn)行檢測(cè)、報(bào)警及自動(dòng)控制。經(jīng)鋼鐵、耐火、水泥、橡膠、化纖、電力等工業(yè)的長(zhǎng)期運(yùn)行,都獲得理想效果,被廣泛用于工業(yè)生產(chǎn)中。ul型儀表屬機(jī)械儀表,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,耐高溫,防塵,耐沖擊,無(wú)繁雜電氣線路,控制可靠,可長(zhǎng)期運(yùn)行。其產(chǎn)品型號(hào)可分為ul-2、ul-3、ul-4、ul-k等。
      更新時(shí)間:2025-07-16
      軸承振動(dòng)檢測(cè)儀 高頻沖擊振動(dòng)分析儀 低頻振動(dòng)烈度測(cè)量?jī)x出租
      滾動(dòng)軸承和齒輪箱的振動(dòng)既含有高頻沖擊振動(dòng),又含有低頻振動(dòng)。檢測(cè)此類(lèi)振動(dòng)時(shí),既要檢測(cè)高頻沖擊振動(dòng),又要關(guān)心低頻振動(dòng)烈度,通過(guò)無(wú)量綱的脈沖指標(biāo)來(lái)進(jìn)行狀態(tài)判斷更為有效。hg-2510正是基于以上思想設(shè)計(jì)而成,它既可以測(cè)量振動(dòng)烈度,又可以測(cè)量高頻加速度的峰值和平均值,從而獲得高頻加速度的脈沖指標(biāo)。另外還提供軸承,齒輪高頻絕對(duì)判定標(biāo)準(zhǔn)和低頻振動(dòng)烈度標(biāo)準(zhǔn)(iso-2372)來(lái)幫助判別軸承和齒輪狀態(tài)。
      更新時(shí)間:2025-07-16

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